在不清楚產品的實際可靠性之前，可以通過摸底測試，把容易出現(xiàn)失效的測試項，先單獨考核一次。根據(jù)AEC-Q100項目的分組、及執(zhí)行測試的具體要求，一般會認為HAST和HTOL屬于高風險項，在正式申請AEC-Q100認證之前，先進行HAST和HTOL摸底測試，可有效提升通過率。

AEC-Q100認證摸底測試項目介紹

HAST試驗

HAST（Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test ）高加速溫度和濕度應力試驗，該測試參考JEDEC JESD22-A110；在高溫、高濕、有氣壓的環(huán)境中，同時施加電壓偏置。該試驗可導致金屬化和焊盤腐蝕、界面分層、金屬間化合物生長、鍵合失效和絕緣電阻降低。

在AEC Q100中，HAST分別有2個測試條件可供選擇，即：130℃/85%RH/96小時，或110℃/85%RH/264小時；偏壓部分，則必須通過測試板和直流電源搭配來實現(xiàn)，執(zhí)行HAST時，粵科檢測能夠為客戶提供包含測試板設計制作的整套服務。

HTOL測試

HTOL（High Temperature Operating Life）高溫工作壽命測試，該測試參考JEDEC JESD22-A108，根據(jù)芯片的Grade等級，選取對應的測試溫度，測試時長1000小時；因芯片封裝結構各異，驅動要求多樣化，在執(zhí)行HTOL測試時，芯片必須通過socket、BIB板實現(xiàn)與測試機的電氣連接，進而獲取機臺提供的電源、時鐘、測試程序，芯片的輸出信號也可以連接給測試機臺，通過比對確認芯片的工作狀態(tài)。

粵科實驗室提供AEC-Q車規(guī)級認證方案

在進入汽車電子市場方面，尋找經驗豐富的實驗室來協(xié)助客戶了解車規(guī)、制定相應的AEC-Q驗證步驟與試驗方法，并成功地進入車廠供應鏈，是非常關鍵的。優(yōu)科實驗室在汽車電子可靠性測試驗證與失效分析方面擁有15年的累積經驗，并且已經協(xié)助眾多客戶成功進入汽車電子市場，能夠為您提供全面的車規(guī)級驗證方案。

粵科實驗室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標準檢測資質和檢測能力，可提供車規(guī)級集成電路、分立半導體器件、光電半導體器件、傳感器、被動元件等汽車電子元件AEC-Q檢測認證服務。我們可依據(jù)產品使用條件和質量指標，定義符合汽車電子質量要求的測試計劃，助力客戶快速進入汽車電子市場。

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